设备简介：主要应用于材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷的观察；物相鉴定，包括晶胞参数的电子衍射测定；高分辨晶格和结构像观察；纳米微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素半定量和分布分析。样品要求为非磁性的稳定样品。可以观察的试样种类：复型样品。
