设备简介：ZEM-3系统是一款集塞贝克系数和电阻测量于一体的热电性能测试仪，可用于金属、半导体及陶瓷材料的分析。设备配备红外金面加热炉和微型加热器，可精确控制样品温度及温差，实现高精度测量。测量过程由计算机自动控制，支持指定温度下测量并可自动消除背景电动势，同时具备欧姆接触自动检测功能（V-I图）。此外，ZEM-3可通过适配器测量薄膜样品，并可定制高阻型测量方案，适应多种材料和实验需求，为热电性能研究提供可靠的实验平台。