热物理性能检测

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X射线衍射仪

设备简介：X射线衍射仪主要功能为常规多晶材料物相分析、晶体结构分析、微纳米薄膜样品掠入射分析。配有Anton Paar HT1600高温样品台，可以进行变温原位物相分析。

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